RDEテンプレート

AES (JEOL)

JEOLのオージェ電子分光装置JAMP-9500Fに対応したテンプレートです。

オージェ電子分光法(AES)は、固体表面における局所領域の組成分析法として各種材料の評価に用いられている代表的な表面分析法です。

開発協力者:荻原 俊弥(NIMS 材料創製・評価プラットフォーム 表面・バルク分析ユニット

Fig. 1:
A. Carlson, Wikimedia Commons (Public Domain)

Fig. 2:
電子線入射角とピーク強度、バックグラウンドとの関係
電子線入射角 0~89°で測定したSiのオージェスペクトル
横軸は0°のスペクトルに対応(他のスペクトルは横軸をシフトさせてプロット)
荻原俊弥「初心者のための AES 分析の勘どころ」『初心者のための実用表面分析講座 「分析現場ですぐに役立つ表面分析のノウハウと知識」JASISコンファレンス2018』資料より

登録可能ファイル

JAMP-9500Fの対応フォルダからの出力(例: id, para, data)

登録後のイメージ
入力フォーム
スペック
項目 説明
用途 AES(JEOL)
実験装置の手法の名称 AES
ファイルを出力する実験装置の機種 日本電子 JAMP_9500F
ファイルのフォーマット id,para,dataを含んだフォルダ
ファイルの拡張子 --
メタデータの抽出方式 ファイル内容からのメタデータ抽出
メタデータ抽出結果の標準メタへのマッピングの有無 あり
メタデータを記述する略語を判読性に優れた専門用語に変換する作業の有無 あり
メタデータのvariable構造の有無 あり
可視化の有無 あり
可視化の種類 スペクトル
データ解析の有無 なし
データ解析の特徴 --
データ登録方式 Excelインボイス,インボイス
データ入出力方式 1回のデータ登録操作で既定のファイル(id, para, data)を含む複数ファイルから1タイルを生成

フォームからのお申込み

本テンプレートを利用希望の方は、お問い合わせ時に

  • survey, split: AES_JAMP9500F [NIMS_DTx014]
  • depth: AES_JAMP9500F_depth [NIMS_DTx015]

とお書きください