RDEテンプレート

RDEテンプレート一覧

ベイズ線形回帰

このツールは特徴量の選択を伴うベイズ線形回帰を実施することができます。 材料特性を予測し、新規材料の探索や新たな知見を獲得する上で、どの特徴量が材料特性を予測するために必要かを示すことは重要です。 特徴量選択を実施する代続きを読む

XPS用ピーク分離

ベイズ情報量規準に基づいたXPSスペクトルの自動ピークフィット。   XPSスペクトルデータを入力し、自動的にピークフィッティングを実施するテンプレートです。この手法では、XPSスペクトルが与えられたときに最大続きを読む

PLSでの特徴量取得

PLS回帰は、多重共線性があるデータや説明変数が多い場合に有効な回帰手法です。主成分回帰と同様に低次元空間へ射影しながら、目的変数との関係を最大化する成分を抽出します。 これにより、過学習を抑えつつ精度の高いモデルを構築続きを読む

Homcloudを使用したパーシステントダイアグラム(PD)作成

本ツールは計測画像からトポロジー(連結性、穴、クラスター構造など)的な幾何特徴量を抽出します。 計測画像に対して、位相的特徴を表現できるパーシステントホモロジー(PH)を適用し、得られたパーシステントダイアグラムから幾何続きを読む

XenonPyでの特徴量取得

入力した化学組成に対して、原子半径や元素周期、電気陰性度などプリミティブな特徴量を算出します。 この特徴量は化学組成の組成に基づく重み付き演算(加重平均や加重分散)で計算されます。これらの特徴量は、XenonPyに収録さ続きを読む

XPS (ULVAC-PHI)

ULVAC-PHI社のXPSデータの蓄積・閲覧に対応したテンプレートです。 spe, pro の拡張子を持つULVAC-PHI社のバイナリーフォーマットに対応しています。 前者は表面スペクトルのデータ、後者は深さ方向分析続きを読む

Digital Micrograph dm3フォーマット

DigitalMicrographはGatan Inc.製品の制御・データ取得・解析に用いられるソフトウエアです。同社の製品群(TEM用カメラ・EELS装置・STEMシステム)で取得したデータは、.dm3などの拡張子で保続きを読む

X線回折 (Rigaku)

RAS/RASX形式のXRDデータの読み込みに対応。   粉末X線回折法(XRD)は、主として結晶質の試料に対して、その結晶相の同定・定量、結晶性の評価などを得る為に用いられます。本テンプレートは、国内外で幅広続きを読む

VSM (玉川製作所)

振動試料型磁力計から保磁力、残留磁化、飽和磁化を特徴量として自動出力。 玉川製作所の試料自動交換機能付き振動試料型磁力計(TM-VSM211483ASE)は、最大印加磁場が2.1T、感度は1×10–7 emuというスペッ続きを読む

AFM

AFM(原子間力顕微鏡)は探針と試料表面の原子間に働く力を精密に計測することにより、試料表面の形状をサブnmの精度で検出する顕微鏡です。試料は、無機物、有機物、絶縁体、金属など固体であれば試料の特性によらず計測できること続きを読む