RDEテンプレート

RDEテンプレート一覧

Digital Micrograph dm3フォーマット

DigitalMicrographはGatan Inc.製品の制御・データ取得・解析に用いられるソフトウエアです。同社の製品群(TEM用カメラ・EELS装置・STEMシステム)で取得したデータは、.dm3などの拡張子で保続きを読む

X線回折 (Rigaku)

RAS/RASX形式のXRDデータの読み込みに対応。   粉末X線回折法(XRD)は、主として結晶質の試料に対して、その結晶相の同定・定量、結晶性の評価などを得る為に用いられます。本テンプレートは、国内外で幅広続きを読む

VSM (玉川製作所)

振動試料型磁力計から保磁力、残留磁化、飽和磁化を特徴量として自動出力。 玉川製作所の試料自動交換機能付き振動試料型磁力計(TM-VSM211483ASE)は、最大印加磁場が2.1T、感度は1×10–7 emuというスペッ続きを読む

AFM

AFM(原子間力顕微鏡)は探針と試料表面の原子間に働く力を精密に計測することにより、試料表面の形状をサブnmの精度で検出する顕微鏡です。試料は、無機物、有機物、絶縁体、金属など固体であれば試料の特性によらず計測できること続きを読む

GD-MS (VG9000)

質量分析装置VG9000に対応したテンプレートです。 グロー放電質量分析法(GD-MS:Glow Discharge Mass Spectrometry)は、試料を陰極として、アルゴン(Ar)ガス中やヘリウム(He)ガス続きを読む

AES (JEOL)

JEOLのオージェ電子分光装置JAMP-9500Fに対応したテンプレートです。 オージェ電子分光法(AES)は、固体表面における局所領域の組成分析法として各種材料の評価に用いられている代表的な表面分析法です。 開発協力者続きを読む

XPS (VAMASフォーマット)

標準規格VAMAS形式のXPSデータに対応。   VAMASフォーマットのXPSデータに対応したテンプレートです。VAMASフォーマット [1,2] は、表面化学分析データの標準的なテキストベースのデータ交換フ続きを読む

ウェーブレット特徴量

観察画像の特徴を見いだし、材料特性との相関へ。   材料観察画像(SEM/TEM像や相の分布画像)などパターン画像(模様やテクスチャなど)に対して、ウェーブレット変換のひとつであるSteerable Pyram続きを読む

XPS用ピーク分離

疑似Voigt関数を用いたXPSスペクトル解析用テンプレートです。csv入力に対応します。 本テンプレートを利用希望の方は、お問い合わせ時に XPS_BICfitting 1.0 [NIMS_DTx017] とお書きくだ続きを読む

VSM (MPMS)

Quantum Design社の磁気特性測定システムMPMSによるVSM測定に対応したテンプレートです。保持力、飽和磁束密度、飽和磁化を特徴量として出力します。 本テンプレートを利用希望の方は、お問い合わせ時に VSM_続きを読む