RDEテンプレート
RDEテンプレート一覧
VSM (MPMS)
磁化曲線のバックグラウンドや偶発点除去と特徴量の自動計算。 Quantum Design社の磁気特性測定装置（MPMS）に対応したテンプレートです。測定データテキストファイルと一緒に、メタデータとして薄膜サンプルサイズ（…続きを読む
VSM (LakeShore)
磁化曲線のバックグラウンド等自動除去、磁性特徴量の自動計算。 LakeShore社の振動試料型磁力計 (VSM) に対応したテンプレートです。測定データテキストファイルと一緒に、メタデータとして薄膜サンプルサイズ（縦・横…続きを読む
PPMS (DynaCool)
Quantum Design社の物理特性測定装置（PPMS） DynaCool に対応したテンプレートです。本装置を用いて網羅的に測定された、試料温度や、外部磁場強度・角度などに対する電気抵抗などの値を一覧として表示する…続きを読む
PLSでの特徴量取得
PLS回帰は、多重共線性があるデータや説明変数が多い場合に有効な回帰手法です。主成分回帰と同様に低次元空間へ射影しながら、目的変数との関係を最大化する成分を抽出します。 これにより、過学習を抑えつつ精度の高いモデルを構築…続きを読む
Homcloudを使用したパーシステントダイアグラム(PD)作成
本ツールは計測画像からトポロジー（連結性、穴、クラスター構造など）的な幾何特徴量を抽出します。 計測画像に対して、位相的特徴を表現できるパーシステントホモロジー（PH）を適用し、得られたパーシステントダイアグラムから幾何…続きを読む
化学組成からのXenonPyによる特徴量取得
入力した化学組成に対して、原子半径や元素周期、電気陰性度などプリミティブな特徴量を算出します。 この特徴量は化学組成の組成に基づく重み付き演算（加重平均や加重分散）で計算されます。これらの特徴量は、XenonPyに収録さ…続きを読む
XPS (ULVAC-PHI)
ULVAC-PHI社のXPSデータの蓄積・閲覧に対応したテンプレートです。 spe, pro の拡張子を持つULVAC-PHI社のバイナリーフォーマットに対応しています。 前者は表面スペクトルのデータ、後者は深さ方向分析…続きを読む
Digital Micrograph dm3フォーマット
DigitalMicrographはGatan Inc.製品の制御・データ取得・解析に用いられるソフトウエアです。同社の製品群（TEM用カメラ・EELS装置・STEMシステム）で取得したデータは、.dm3などの拡張子で保…続きを読む