AFM（原子間力顕微鏡）は探針と試料表面の原子間に働く力を精密に計測することにより、試料表面の形状をサブnmの精度で検出する顕微鏡です。試料は、無機物、有機物、絶縁体、金属など固体であれば試料の特性によらず計測できることが特徴です。また、探針の種類や計測法により試料表面の摩擦力や弾性力、磁気力、ポテンシャル、圧電力など様々な物性値が計測可能です。
本テンプレートは、AFMで測定したTIFF画像ファイルを登録するテンプレートです。複数データを一括登録する機能を備えています。
開発協力: 小塚裕介（NIMS ナノアーキテクトニクス材料研究センター）
登録可能ファイル
tifファイル
登録後のイメージ
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スペック
| 項目 | 説明 |
|---|---|
| 用途 | AFM |
| 実験装置の手法の名称 | AFM |
| ファイルを出力する実験装置の機種 | エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社 SPI3800N |
| ファイルのフォーマット | -- |
| ファイルの拡張子 | bmp, tif |
| メタデータの抽出方式 | -- |
| メタデータ抽出結果の標準メタへのマッピングの有無 | なし |
| メタデータを記述する略語を判読性に優れた専門用語に変換する作業の有無 | なし |
| メタデータのvariable構造の有無 | なし |
| 可視化の有無 | あり |
| 可視化の種類 | 画像 |
| データ解析の有無 | なし |
| データ解析の特徴 | -- |
| データ登録方式 | インボイス |
| データ入出力方式 | １回のデータ登録操作で1ファイルから１タイルを生成 |
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AFM_tif 1.0 [NIMS_DTx012]
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